一、XRF-2000L X射線鍍層測(cè)厚儀型號(hào)規(guī)格如下圖:
二、產(chǎn)品功能：
1、采用X射線熒光光譜法無損測(cè)量金屬鍍層厚度,單鍍層,雙鍍層,多鍍層及合金鍍層,不限基材！
1、鍍層元素范圍：鈦～鈾，包含常見的金、鎳、銅、銀、錫、鋅、金，鉻，鋅鎳合金等。
2、鍍層層數(shù)：可測(cè)5層。
3、測(cè)量產(chǎn)品位置尺寸：標(biāo)準(zhǔn)配備0.2mm準(zhǔn)直器,測(cè)量產(chǎn)品大于0.4mm(可訂制更小準(zhǔn)直器)
4、測(cè)量時(shí)間：通常15秒。
5、H型號(hào)機(jī)箱容納樣品尺寸：550 x 550 x 100 mm (長(zhǎng)x寬x高)。
6、L型號(hào)機(jī)箱容納樣品尺寸：550 x 550 x 30 mm (長(zhǎng)x寬x高)。
7、測(cè)量誤差：通常小于5%，視樣品具體情況而定。
8、可測(cè)厚度范圍：通常0.01微米到60微米
三、XRF-2020測(cè)厚儀X-RAY電鍍膜厚測(cè)量?jī)x功能
- 測(cè)量方法：通過CCD鏡頭觀察樣品倉；
- 電鍍層膜厚,測(cè)量電鍍層厚度；
- 測(cè)量金,鎳,銀,錫,鋅,銅,鋅鎳合金等電鍍層厚度；
- 單鍍層,雙鍍層,多鍍層,鋅鎳合金鍍層均可以測(cè)量；
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